MC-2000(A、C、D)型涂（鍍）層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù)，精度 高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、無校正旋鈕、單探頭全量程測(cè)量、體 積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、低電壓指示、其性能達(dá)到當(dāng)代國際同類儀器的先進(jìn)水 平。 一、應(yīng)用范圍： 本儀器采用磁性測(cè)厚法，可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層 或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、 噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。 二、工作原理 ： MC-2000(A、C、D)涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合 的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變 化。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。 三、技術(shù)參數(shù): 1、測(cè)量范圍 ：（A型0—1500μm：C型0—5000μm：D型10—9000μm） 2、測(cè)量誤差：　<3%+1μm 3、最小示值：　1μm 4、顯示方式 ： 4位液晶數(shù)字顯示 5、主要功能： (1).測(cè)量： 　 單探頭全量程測(cè)厚　(2).存儲(chǔ)： 可存入測(cè)量數(shù)據(jù)254個(gè)　(3).讀：讀出已存入測(cè)量數(shù)據(jù) (4).校正： 隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)試片校正　(5).打印： 選配微型打印機(jī) 6、基體最小厚度： 0.2mm,基體最小平面： 7mm,最小曲率半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm 臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。