常州表面雜質(zhì)分析
歡迎咨詢：0510-82031662/13395176990張小姐
郵箱：062@jiancezaixian.com  Q:1481873867
無(wú)錫容大檢測(cè)為客戶提供產(chǎn)品檢測(cè)認(rèn)證服務(wù),服務(wù)涉及所有產(chǎn)品行業(yè)：金屬、高分子、食品、玩具、紡織、建材、礦產(chǎn)、家用電器、工業(yè)機(jī)械、交通工具……  真正的一站式服務(wù)，幫您推薦檢測(cè)項(xiàng)目，提供多個(gè)檢測(cè)方案，介紹檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，滿足您的各方面檢測(cè)需求！
GDMS輝光放電質(zhì)譜儀
利用陰極濺射。輝光放電形成的正離子轟擊樣品，能量從幾百到幾千電子伏的正的氬離子被加速到樣品表面。導(dǎo)致樣品上層被腐蝕或霧化。在質(zhì)譜儀經(jīng)過(guò)質(zhì)量分離后測(cè)量從濺射區(qū)域產(chǎn)生的分析離子，經(jīng)RSF轉(zhuǎn)化成濃度。
GDMS優(yōu)點(diǎn)
能夠探測(cè)到每種雜質(zhì)的化學(xué)態(tài)的全部濃度，不需要通過(guò)化學(xué)方法?？梢砸淮涡詼y(cè)出全部的73種元素的含量，可以精度到小數(shù)點(diǎn)8位。檢測(cè)成本低
GDMS缺點(diǎn)
H、C、O、N元素的探測(cè)極限較差
GDMS適用范圍
石墨  碳  硅  碳化硅 氧化物  陶瓷 等
SIMS基本原理
樣品由氧或者銫源的聚焦一次離子束濺射，形成的二次離子被加速使其脫離樣品表面，由靜電分析器進(jìn)行能量分離和由電磁質(zhì)量分析器基于質(zhì)荷比進(jìn)行質(zhì)量分離。