瑞普高電子有限公司

 
特點
?ATM測試和LAN連接性測量；
?物理層測試,帶抖動的產(chǎn)生和分析；
?在線和停業(yè)務(wù)測試,支持安裝和維護(hù)或生產(chǎn)制造測試應(yīng)用；
?支持ANSI,ETSI和ATM論壇標(biāo)準(zhǔn)；
?用E4540分布式網(wǎng)絡(luò)分析儀軟件進(jìn)行完全的遠(yuǎn)程管理；
?便攜,堅固,提供裝在頂蓋上的圖形打印機；
?設(shè)計成能軟升級,以滿足未來的要求；
?模塊化,按ATM測試需要配置系統(tǒng)。

Agilent OmniBER 717 通信性能分析儀：
    Agilent OmniBER 717 通信性能分析儀為從物理層到業(yè)務(wù)層寬帶測試的解決方案。這種模塊化靈活儀器的特性允許它按實際的應(yīng)用來配置，以滿足許多范圍的應(yīng)用，包括安裝、維護(hù)和生產(chǎn)制造等領(lǐng)域的測試應(yīng)用。它可以在最常用的ANSI和ETSI廣域傳輸速率運行。
開通業(yè)力ATM分析
    能通道檢查特征來尋找和識輥在ATM鏈路上多達(dá)1023個活動的虛擬通道，包括偶數(shù)信元事件，在所有已發(fā)現(xiàn)的通道上同時檢查實時信元速率和數(shù)量，自動地執(zhí)行每個有源通道的記錄分析，以AAL或OAM信元類別；ATM層告警也被顯示。在ATM層或更高層完成詳細(xì)的分析。用單點CDV測量方法來圖示監(jiān)測實時在線信元的時延變化，并對不符合1.356的信元進(jìn)行計數(shù)。分析1.610性能管理OAM信元，以便從有效的信息流中獲得信元丟失的誤插的結(jié)果。分析AAL差錯，以ATM層上故障的有用指示。
中斷業(yè)務(wù)ATM分析
    產(chǎn)生和分析0.191測試信元以獲得2點CDV，信元丟失，信元誤碼率行和信元差錯的測量（根據(jù)1.356);產(chǎn)生多達(dá)10個邪氣通道，每個都帶有一用戶可定義的恒定分布，泊松或突發(fā)信息流。除了測試信元外，產(chǎn)生和分析單信元或交叉信元9分段）偽隨機二進(jìn)制序列，插入或單個雙極頭差錯，或凈荷損傷，用F4和F5 OAM流產(chǎn)生和識別ATM層告警。
物理層特性，包括抖動
    分析物理層差錯，執(zhí)行G.826分析和產(chǎn)生物理層損傷，產(chǎn)生和識別物理層告警，測量接收的時鐘速率和光功率，以及偏置分析儀內(nèi)部產(chǎn)生的時鐘速率，產(chǎn)生和分析物理層抖動及頻率偏置，這使分析儀成為檢驗ATM接口抖動容限的一個重要工具。
以太網(wǎng)連接性
    檢查以太網(wǎng)上LAN到WAN的連接性。用“和咻聲歷史來檢查端到端業(yè)務(wù)。
性能指標(biāo) 
物理層（通用）
接口：DSI(1.5Mb/s),DS3(45Mb/s),直接和PLCP映射的ATM),E1(2Mb/s),E3(34Mb/s),E4(139Mb/s),OC-3c(155Mb/s),STM-le/STM-lo(155Mb/s)

物理層產(chǎn)生
告警產(chǎn)生：LOS,LOF,AIS,RAI/RDI
差錯加入：DS1:FAS,BPV/碼，CRC-6;DS3:FAS,MFAS,BPV/碼，廳偶性（P比特），CP（奇偶性）,FEBE,EXZ;DS3,PLCP:B1,FEBE,C1,幀；E1:FAS,BPV/碼,CRC-4,REBE;E3:BPV/碼,BIP 
DS3FEAC:DS3環(huán)回控制

物理層分析
告警指標(biāo)：LOS,LOF,AIS,RDI/RAI/DS3 
PLCP幀丟失，CRC多幀丟失，DS3FEAC ATM產(chǎn)生
信元報頭：UNI和NNI，所有字段可編程
信息流產(chǎn)生：1個前臺和9個后臺虛擬通道，每個通道的事寬和分布（如恒定，泊松，突發(fā)）可獨立設(shè)置（突發(fā)過程中可調(diào)整速率）；前臺凈荷：<

? 瑞普高電子除了上述717以外還能為客戶提供以下通迅分析儀： 
   718

? 在提供有質(zhì)量保證的二手測試儀器同時， 瑞普高電子還可以為貴公司提供測試儀器的維修，計量校準(zhǔn)，租賃和回收服務(wù)等一系列的服務(wù)。公司網(wǎng)址：www.ruipugao.com