深圳市天一興業環保技術有限公司

為了提高檢測藥品和食物中微量的農藥殘留的效率，需要對痕量化合物進行非常好的分離檢測。 在Prominence UFLC的基礎上，我們研發出Prominence UFLCXR可通過高分離性能取得高質量的數據。在保持Prominence系列的高分析精度和可靠性的基礎上，利用高速分離柱以及系統優化，我們可以提高此儀器的分離性能，遠遠高于傳統的LC儀器。 極高分離性能 為取得超高的分離性能，柱效通過優化對XR-ODS高速分離柱的粒徑和長度之間的平衡進一步提高。系統優化后柱性能可達到更高的級別，當利用長柱時，在耐壓能力和低擴散的情況下比較理想。 良好的重現性及低樣品殘留 高性能的輸液泵和低樣品殘留的自動進樣系統，大大可保證了痕量化合物分析的可靠性。 高分離柱：shim-pack XR-OD SII Shim-pack XR-ODS II高分離柱，基于Shim-pack XR-ODS高速分離柱，加強分離性能并可提供長柱子 ，有助于進行高分離分析的應用。 極高的分離性能 可對痕量化合物的高靈敏檢測來說，高分離度是必須的。僅僅通過增加柱長，在提高分離性能的同時增加了分析時間，會降低分析效率。 Prominence UFLC在確保高水準確性和可靠性的同時，使高速分析成為可能。而Prominence UFLCXR分離性能更加高。為了獲取更高的分離性能，可通過對粒徑和長度進行平衡優化，系統優化后柱性能可達更高的水平。 痕量化合物的高靈敏度檢測 Prominence UFLCXR配合Shim-pack XR-ODS II柱的分離性能至少與250mm 5??m粒徑色譜柱的分離性能相當。SPD-20A檢測器的寬動態范圍可對各個色譜峰進行高靈敏檢測。如藥品中的微量雜質分析。同樣，低交叉污染的SIL-20AXR自動進樣器也是高精度分析的保障。 聯系人 區經理 電話 13823581593 QQ 2868059266 地址 深圳市福田區八卦三路88號榮生大廈702室 固定電話：0755-25870896 網址 www.ges-tech.cn