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[供應(yīng)]數(shù)字式晶振阻抗測(cè)試儀
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：深圳
- 產(chǎn)品品牌：智慧源
- 包裝規(guī)格：GDS-80
- 產(chǎn)品數(shù)量：1000
- 計(jì)量單位：胎
- 產(chǎn)品單價(jià)：8000
- 更新日期：2025-05-02 11:10:48
- 有效期至：2025-05-12
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數(shù)字式晶振阻抗測(cè)試儀
詳細(xì)信息
數(shù)字式晶振阻抗測(cè)試儀GDS-80
一、
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
數(shù)字式晶振阻抗測(cè)試儀GDS-80是高性?xún)r(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng)，采用微處理器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。數(shù)字式晶振阻抗測(cè)試儀GDS-80測(cè)量頻率范圍20KHz-100MHz，附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。
數(shù)字式晶振阻抗測(cè)試儀GDS-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。數(shù)字式晶振阻抗測(cè)試儀GDS-80它測(cè)量精度高，速度快；具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量，可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù)，負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試，智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩，讓晶振測(cè)試變得更輕松。
二、 特點(diǎn)
1. 阻抗值、ppm同時(shí)顯示
2. 無(wú)需人工校對(duì)，直接測(cè)試多種參數(shù)
3. 新技術(shù)，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)，滿足國(guó)人需求，可替代進(jìn)口設(shè)備
4. LCD顯示
5. PPm超標(biāo)提示功能
三、
主要技術(shù)指標(biāo)
1. 中心頻率范圍：20KHz-100MHz任意設(shè)定
2. 負(fù)載電容：4-20P任意設(shè)定
3. 負(fù)載諧振電阻：1Ω-300Ω
1K-300K
4. PPm范圍測(cè)量：±300ppm
5. PPm測(cè)量精度：<0.5ppm
6. 時(shí)基頻率：16.384M
7. 晶振穩(wěn)定性：2×10-8
/日
8. 體積：80×235×305（mm）
9. 保修期：三年
四、
儀器配置
1. 數(shù)字式晶振阻抗測(cè)試儀GDS-80 1臺(tái)
2. 電源線1根
3. 保修卡一張
4. 說(shuō)明書(shū)1份
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