一、儀器用途  TGB-500 透反射式硅片檢測顯微鏡主要用于太陽能電池硅片的觀察.它能生產高清晰的圖像,立體感較強，成像較清晰和寬闊，又具有長工作距離，并具有較大的視場范圍和相應的放大倍數,配有高像素的數碼攝像頭,可以很清楚地看到硅片的”金字塔” 的微觀形貌分布情況,及硅片的缺陷分析服務.是太陽能電池硅片的普遍專用顯微鏡。
硅片檢測顯微鏡可以觀察到肉眼難觀測的位錯、劃痕、崩邊等;還可以對硅片的雜質、殘留物成分分析.雜質包括: 顆粒、有機雜質、無機雜質、金屬離子、硅粉粉塵等，造成磨片后的硅片易發生變花、發藍、發黑等現象，使磨片不合格. 是太陽能電池硅片生產企業進行質量控制最普通的儀器.
二、技術參數 1.目鏡類型 放大倍數 視場(mm) 
大視野目鏡 10X Φ22 
2.物鏡類別 放大倍數 數值孔徑(NA) 工作距離(mm) 
明暗場無窮遠長距平場消色差物鏡 5X 0.12 9.7 
10X 0.25 9.3 
20X 0.40 7.2 
40X 0.60 3.7 
3.光學放大倍數：50X  100X  200X  400X  
4.三目鏡,傾斜30?,(內置檢偏振片,可進行切換)
5.雙層機械移動式(尺寸:210mmX140mm,移動范圍:75mmX50mm)
6.粗微動同軸調焦, 微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置
7.照明系統：落射 6V 20W 鹵素燈,亮度可調,帶視場光欄、孔徑光欄、起偏振片,
透射 6V 20W 鹵素燈,亮度可調,內置視場光欄, 藍濾色片和磨砂玻璃
8.阿貝聚光鏡NA.1.25可上下升降
9.防霉:特有的防霉系統
10.成像系統:高像素的CCD攝像頭
三、系統組成 (TGB-500)：1.硅片顯微微   2.適配鏡   3.CCD攝像器   4.A/D圖像采集卡
四、總放大參考倍數 TGB-500：50--2000倍
五、選購件 1.圖像測量軟件  2.目鏡： 20X 10X(帶刻度)   3.物鏡：50X  60X  80X  100X