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[供應]手持式四探針方阻測試儀
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- 更新日期：2019-10-28 09:46:22
- 有效期至：2020-10-27
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手持式四探針方阻測試儀
詳細信息
一、
概述：
參照硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及國家標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》，采集高精密集成電路恒流源系統，提供便捷的操作模式，便攜式外形結構，可充電式電源系統，中英文語言版本.
二、
功能介紹：
便攜式外形結構更加適用于車間生產、品管抽檢，外出攜帶測量等要求快速便捷測量的場所；也適用于中小型半導體材料生產企業.具有高性價比優勢.
液晶顯示，顯示方阻、電阻率、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度，樣品厚度單位從米到納米均可輸入，自動測量、質量輕便，操作簡便；
三、適用范圍：
廣泛用于：覆蓋膜導電高分子膜，高、低溫電熱膜隔熱、防輻射導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙金屬化標簽、合金類箔膜熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料，EMI防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等.
四、技術參數資料
規格型號
FT-391A
FT-391B
FT-391C
1.方塊電阻范圍
10～2.00×102Ω/□
10～2.00×103Ω/□
10～2.00×104Ω/□
2.電阻率范圍
1～2×103Ω-cm
1～2×104Ω-cm
1～2×105Ω-cm
3.分辨率
0.01Ω
0.01Ω
0.01Ω
4.顯示讀數
液晶顯示：電阻率、方阻、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度
5.測試方式
單電測量
6.工作電源
5V，1000mA
7.整機不確定性
≤4.5%（標準樣片結果）
8.選配
選配1.方形探頭；選配2.直線形探頭；探針間距；選配3：探針間距1mm；2mm；3mm三種規格選配4：探針材質：碳化鎢針鍍金磷銅半球形針
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