紫外輻照計(jì)UV-340 量程范圍：(0.1～199.9×103)μW/cm2 分辨率：0.1μW/cm2 取樣時(shí)間：1秒

紫外輻照計(jì)的詳細(xì)介紹

該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

        主要性能指標(biāo)

      ※        波長范圍及峰值波長：  UV－340探頭：λ：(315～370)nm；λ_P＝340nm

    ※        輻照度測量范圍：  (0.1～199.9×10³)μW/cm²

      ※        紫外帶外區(qū)雜光：  UV340：小于0.05％

    ※        余弦特性：  符合國家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)

    ※        示值相對(duì)誤差：  ±10％

    ※        響應(yīng)時(shí)間：1秒

    ※        使用環(huán)境：  溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH

    ※        尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg

    ※        電源：    9V積層電池（6F22型）一只