上海涌明自動化設(shè)備有限公司

德國FISCHER菲希爾X射線熒光光譜儀 華東總代理—供應(yīng)商、廠家、特點、詳細說明：
      材料分析－FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY
        X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測量，同時也適于進行元素分析。
      可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。FISCHERSCOPE? X-Ray XAN? 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀，它可以對未知材料進行簡單，快速而精確的分析。分析范圍從鋁（Al)到鈾（U），即使含量很小也可以測量。
      這些獨特的儀器之所以具有如此強大的性能，是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導(dǎo)體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM? V6軟件。
      如果與應(yīng)用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY的一部分－－珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無損和精確測量金含量的理想設(shè)備。
      1、XAN? 120X射線光譜儀
      貴金屬及珠寶首飾材料分析的理想工具
      新款FISCHERSCOPE? X-Ray XAN? 120是一臺款現(xiàn)代化桌上X射線光譜儀(EDXRF)。它特別為快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設(shè)計。這些首飾和貴金屬包括黃白金，鉑和銀，銠，硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
      XAN? 120測量準(zhǔn)確，使用安全簡便，堅固耐用節(jié)省維護費用。而且，它符合標(biāo)準(zhǔn)DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信號處理系統(tǒng)能達到極高的精確度和非常低的檢測限。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測定。
      無論您想測量未知樣品還是測定未知材料，XAN? 120 配合優(yōu)異的菲希爾 WinFTM? 運行軟件都是您正確的選擇。
      采用新改進的基本參數(shù)法，無論是無標(biāo)準(zhǔn)片測量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測量結(jié)果。為了簡化樣品放置，X射線源和高分辨硅-PIN-接收器置于了 XAN? 120 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術(shù)。
      集成了含十字線、射線位置指示標(biāo)志、光亮及位置調(diào)節(jié)的視頻顯微系統(tǒng)，將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易。現(xiàn)在您不再需要調(diào)節(jié)測量臺或是樣品臺——只需放下樣品即可開始測量。
        長期的穩(wěn)定性和出色的精確度——對于金優(yōu)于1‰——是 XAN? 120的優(yōu)勢所在。而且，由于不需要經(jīng)常進行再校準(zhǔn)，從而節(jié)省了使用者的時間、精力及經(jīng)營成本。測量結(jié)果可以以Karat、 ‰ 或重量 %顯示，并且可以按客戶報表打印輸出。
      優(yōu)秀的人體學(xué)設(shè)計，簡單的操作即測量結(jié)果的快速計算是對XAN? 120最好的描述。使用安全而簡單——無論是對經(jīng)驗豐富還是接受較少培訓(xùn)的員工都是如此。不需要為XAN? 120特別設(shè)置一個實驗室房間。如果您需要一臺出色、準(zhǔn)確可靠的測量儀器，XAN? 120 是您正確的選擇。 為個人計算機而設(shè)計的WinFTM? 測試軟件
      先進的Fischer WinFTM? 軟件有著無與倫比的性能：完整、簡單易用而且不需要補充模塊或是軟件升級。軟件包括 ：
      X射線部件的操作
      控制整個測量過程
      先進的基本參數(shù)法可進行無標(biāo)準(zhǔn)片測量
      用受認證的標(biāo)準(zhǔn)片進行校準(zhǔn)，可以完成有標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校的測量
      可以同時分析材料成分和測量計算鍍層厚度
      按照元素波峰進行自動元素識別
      測量值可以以karat， wt% 或 ‰表示
      客戶自定義報表工具
  2、FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL X射線光譜儀
      FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 是一款適用于大批量材料分析的X-射線光譜儀。
      由于可檢測元素范圍寬至從鋁到鈾，使得FISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 的應(yīng)用范圍延伸至從工業(yè)到科學(xué)領(lǐng)域。無論分析應(yīng)用于冶金上的，地質(zhì)上的，石化上的還是其它種類的材料，F(xiàn)ISCHERSCOPE? X-RAY XDAL 都是一款強有力的和經(jīng)濟的光譜儀。
      內(nèi)置的彩色視頻頭使得X-射線光束快速和精確地定位于被測工件上需要分析的范圍。該儀器所提供的性能和特征的集合是在同樣價格范圍內(nèi)的材料分析儀中無法找尋到的。
      大測量箱，可編程的X-Y工作臺，X-射線從上往下的設(shè)計，X-射線發(fā)生管和接受器裝配系統(tǒng)的Z-軸運行使得設(shè)備非常適合于幾個被測物體的編程測量和掃描較大工件。
      獨特的WinFTM? V6 i軟件是該儀器的核心。它可以分析多達24種元素的材料，無須校驗標(biāo)準(zhǔn)塊，帶預(yù)估測量精度，以及測量非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)。
      3、XDV?-SDD X-射線光譜儀
      您的產(chǎn)品符合RoHS指令嗎？
      您收到的黃金與你所付出的相一致嗎?
      您的電鍍過程是否節(jié)省成本并且可靠呢?
      該款儀器特別為頗具挑戰(zhàn)性的RoHS/ WEEE分析而研發(fā)。而且，它還十分適合于測量黃金及其他貴金屬，分析金的成分重復(fù)性可達0，5 ‰。
      對于鍍層：不僅可以測量其成分比例，還可以測量器厚度!
      XDV?-SDD 是一款真正全能的測試儀器!
      RoHS / WEEE
      可靠地測量Pb， Hg， Cd， Br及Cr元素。在塑料中可達到的測量下限Pb為2 ppm，對Cd為10 ppm。
      RoHS / WEEE對Pb的限制為1000 ppm以及對Cd為100 ppm，儀器能可靠地予以驗證。
      塑料樣品可以不考慮其厚度而進行準(zhǔn)確分析。
      即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統(tǒng)也可以高精度地分析。
      XY(Z)平臺可用來自動掃描印刷線路板。
      WinFTM? V.6 BASIC軟件
      在一次測量過程中，最多可測定包括鍍層厚度和元素成分比例在內(nèi)多達24個特征參數(shù)。
      可測的鍍層厚度小至10納米。
      大多數(shù)情況下，復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)可以在無標(biāo)準(zhǔn)片（無調(diào)校）模式下高精度地分析。
      每個程式在使用最多64片標(biāo)準(zhǔn)片下，可達到最高的準(zhǔn)確度。
      這同時也保證了測量結(jié)果的可追溯性。
      X射線校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片提供DKD 校準(zhǔn)證書，遵循DIN EN ISO/IEC 17025標(biāo)準(zhǔn)。
      WinFTM? V.6 軟件能精確測量從幾個ppm到100%的成分含量。
      4、XAN? 150X射線光譜儀
      XAN? 150特別適合測量和分析超薄鍍層，即使鍍層的結(jié)構(gòu)十分復(fù)雜或是組分含量非常微小，XAN150都能準(zhǔn)確測量。
&nbs