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膜厚檢測
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電鍍層的厚度測量方法分破壞性測量和非破壞性測量兩大類。
屬于破壞性測量的方法有計時液流法，點滴測厚法，庫侖法，金相法等，屬于非破壞性的測量方法有磁性法，渦流法，β射線反向散射法，X-ray法，掃描電鏡法等。
鍍膜厚度檢測標準：ASTM?E376-06 ，ASTMB659-08，ASTMB499-09，DINENISO2178-1995，GB/T4956-2003，GB/T4957-2003
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