青島帝中計量儀器有限公司

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      [供應]供應三豐SV-C3100/4100粗糙度輪廓測量儀
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      • 產品產地:日本
      • 產品品牌:日本三豐
      • 包裝規格:SV-3100/4100
      • 產品數量:10
      • 計量單位:臺
      • 產品單價:
      • 更新日期:2014-09-29 09:11:19
      • 有效期至:2015-09-29
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      供應三豐SV-C3100/4100粗糙度輪廓測量儀 詳細信息

      產品簡介
      三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌

      詳細介紹



      Formtracer(表面粗糙度/輪廓測量裝置)SV-C3100/SV-C4100 

      簡單介紹 
      三豐表面粗糙度/輪廓測量儀 SV-C3100大幅提高的驅動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進一步減少了總的測量時間。
      為了更長時間地保持直線度,三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導軌;驅動器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此,在垂直方向對小孔連續自動測量、對較難定位部件的重復測量的重復精度得以提高。 

      特長:
      本機為電動型支柱,觸針式輪廓形狀、表面粗度量測兩用的復合機。
      輪廓形狀量測用Z軸檢出器搭載Holographic光學尺(SV-C4100)、反射型光學尺(SV-C3100)。
      表面粗度量測用Z軸檢出裝置,可對應ISO/新JIS。
      檢出器的滑動部為2段式,可提升檢出器交換時的操作性。
      資料處理軟體,可做高難度的輪廓形狀、粗度的評價解析。
      資料處理裝置的通訊系統使用RS-232C。 

      表面粗糙度測量

      直線度:±(0.05+0.001L)μm*專用于需要高精度測量的工件。

      *S4型、H4型、W4型;L為驅動長度(mm)

      符合JIS'82/'94/'01,ISO,ANSI,DIN,VDA等表面粗糙度的國際標準。

      標準配置:高精度測頭(0.75mN/4mN測力),分辨率高至0.0001μm。

       

      自動測量

      在與CNC機型配套使用的眾多外設選件的支持下,可實現自動測量。

       

      輪廓驅動測量

      X軸精度:±(0.8+0.01L)μm*Z1軸精度:±(0.8+I0.5HI/25)μm*專用于需要高精度測量的工件。

      *SV-C4100S4型、H4型、W4型;L為驅動長度,H為測量高度(mm)

      SV-C4100系列的輪廓驅動器配備了激光全息測微計測頭,Z1軸寬/窄范圍均能達到極高的精度和分辨率。

       

      基本技術參數:

      基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm

      基座材料:花崗巖

      重量

       主機:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)

      140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)

       控制器:14kg

       遙控箱:0.9kg

      電源:100–240VAC±10%,50/60Hz

      能耗:400W(主機)

       

      輪廓測量技術參數:

      X軸

       測量范圍:100mm或200mm

       分辨率:0.05μm

       檢測方法:反射型線性編碼器

       驅動速度:80mm/s、外加手動

       測量速度:0.02-5mm/s

       移動方向:向前/向后

       直線度:0.8μm/100mm,2μm/200mm

      *以X軸為水平方向上

       直線位移:±(1+0.01L)μm(SV-C3100S4,H4,W4)

       精度(20°C時)±(0.8+0.01L)μm(SV-C4100S4,H4,W4)

      ±(1+0.02L)μm(SV-C3100S8,H8,W8)

      ±(0.8+0.02L)μm(SV-C4100S8,H8,W8)

      *L為驅動長度(mm)

       傾角范圍:±45°

      Z2軸(立柱)

       垂直移動:300mm或500mm

       分辨率:1μm

       檢測方法:ABSOLUTE線性編碼器

       驅動速度:0-20mm/s、外加手動

      Z1軸(檢測器)

       測量范圍:±25mm

       分辨率:0.2μm(SV-C3100),

       0.05μm(SV-C4100)

       檢測方法:線性編碼器(SV-C3100),

       激光全息測微計(SV-C4100)

       直線

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