方塊電阻測(cè)試儀ST-21 是四探針?lè)綁K電阻測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品，是一種依照類(lèi)似國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)，專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體方塊電阻(或稱(chēng)薄屋電阻、面電阻，單位Ω/□)的新型儀器。可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(如ITO透明導(dǎo)電氧化膜)……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。

方塊電阻測(cè)試儀的詳細(xì)介紹

方塊電阻測(cè)試儀ST-21


該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、精度高的特點(diǎn)。

特 點(diǎn)* 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定；* 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；* 采用單個(gè)干電池供電，帶電池欠壓指示；* 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；* 輕便手持式設(shè)計(jì)操作、測(cè)試簡(jiǎn)便； *.特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜；* 帶探頭與被測(cè)物質(zhì)接觸良好指示(LED) 、探頭帶抗靜電模塊；* 單電源開(kāi)關(guān)，推拉式探頭-主機(jī)接插件，操作極其簡(jiǎn)便；

技 術(shù) 指 標(biāo)
  1. 測(cè)量范圍：  按方塊電阻量值大小分為二個(gè)量程檔：○1 1.00～199.99Ω/□；○2 10.0～1999.9Ω/□；
  2. 恒流源：測(cè)量過(guò)程誤差：≤±0.8%；3. 模數(shù)轉(zhuǎn)換器：量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動(dòng)顯示；小數(shù)點(diǎn)同步顯示；4. 測(cè)量不確定度：在整個(gè)量程范圍內(nèi)，測(cè)量不確定度≤5%5. 四探針頭：間距：1mm或3.8mm可選，偏差：≤2%；針間絕緣電阻≥500MΩ；6.  電源：9V疊層電池1節(jié)