多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀aixPES-MR
(MagnetoResistiveMeasurement)
本系統(tǒng)主要用于研究磁阻和鐵性材料。
本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，欣源科技（北京）有限公司，欣源科技（北京），樣品上的電壓降通過高精度四點(diǎn)測(cè)試。
測(cè)試磁體可以選擇：亥姆赫茲線圈、可變磁體、超導(dǎo)磁體等。
技術(shù)說明：
電壓范圍10V、500mV、5mV在16bit分辨率辶下，多功能多鐵磁電磁阻測(cè)試
，精度優(yōu)于1%；
電流范圍：/-30mA或500μA，多功能多鐵磁電磁阻測(cè)試
，分辨能力15nA；
測(cè)試器件的最大阻抗：1MΩ；
測(cè)試器件的最小阻抗：10mΩ。
I/V測(cè)試：
正弦波電流測(cè)試時(shí)間：10ms到5s；
電壓范圍/-10V；
電流反饋放大器提供真實(shí)電流測(cè)試。
欣源科技SYNERCE獨(dú)家代理德國(guó)aixACCT公司的鐵電壓電熱釋電系列產(chǎn)品，包括鐵電分析儀(鐵電測(cè)試儀、TF2000E、TFAnalyzer2000E/3000、極化測(cè)量?jī)x)/壓電分析儀(壓電測(cè)試儀)/熱釋電分析儀(熱釋電測(cè)試儀凵)，壓電材料綜合表征系統(tǒng)aixPES、多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀aixPES-MR、高低溫塊體壓電分析儀aixPES-600/800、電卡效應(yīng)測(cè)試儀ECM、熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀TSDC、超薄薄膜壓電雙光束激光干涉儀aixDBLI、陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀(aixCMA、陶瓷多層驅(qū)動(dòng)器測(cè)試儀、陶瓷多層電容器測(cè)試儀)，機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀aix4PB、阻變式存儲(chǔ)器測(cè)試儀RRAM、鐵電遲豫電流測(cè)試儀aixPES-RX、鐵電自放電測(cè)試儀aixPES-DR、鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀FeRAM、熱電性能測(cè)試儀COMTESSE(塞貝克系數(shù)測(cè)試儀)

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