無(wú)錫容大檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司

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無(wú)錫容大川檢測(cè)提供金屬和非金屬材料的高純度成分分析
一、儀器類型
1、ICP-AES/ICP-MS電感耦合等離子體光譜分析儀
2、GDMS 輝光放電質(zhì)譜儀
二、業(yè)務(wù)類型
1、單樣分析：高純材料純度測(cè)定、高純雜質(zhì)分析
2、批量分析：簽定長(zhǎng)期協(xié)議，協(xié)助企業(yè)長(zhǎng)期進(jìn)行來(lái)料控制
三、選擇適合的檢測(cè)方式
根據(jù)產(chǎn)品材質(zhì)，數(shù)據(jù)用途，選擇不同的測(cè)試要求：
1、ICP
  此類型適用于有固定牌號(hào)或指定雜質(zhì)元素的情況下分析，一般分析元素不是很多。測(cè)試前期需要制樣，某些產(chǎn)品制樣復(fù)雜。消耗產(chǎn)品較多。對(duì)樣品是破壞性的。
2、GDMS
適用于所有高純固體分析，一次性做出所有雜質(zhì)的含量，對(duì)于粉末或絲狀樣品也需要制樣。僅損耗產(chǎn)品表面約50微米。
以上兩種方式，精確度均沒(méi)有問(wèn)題，根據(jù)客戶的要求，可靈活選擇檢測(cè)方式。